客户背景
客户为某LED芯片生产厂商，在试验一套新的工艺方法制备LED外延片，发现所获得的芯片在某些性能方面有一些异常。客户希望微谱能帮助分析芯片性能异常的可能原因。
解决方案
考虑到芯片尺寸的特点，微谱利用FIB-SEM对异常芯片和正常芯片同时进行微处理和结构成像比对，通过获得截面图发现异常芯片外延层中有缺陷存在，且部分结构层的实际厚度和理论设计厚度有明显差别。
客户反馈
客户通过我们提供的结构成像结果，直观了解了芯片内部实际情况。在与我们沟通讨论之后，注意和改进了某些工艺环节，产品质量得到了明显改善。
1000余台仪器设备
微谱拥有多种大型分析仪器，可以联合使用；保障分析数据的准确性
3000余名专业人才
微谱拥有经验丰富且领域细分的分析人才，熟悉客户需求，能够更快捷的帮助客户解决问题
100万余条谱图数据库
强大的谱图库资源结合工程师10余年技术经验，保障数据的准确性
147项国家专利
微谱不断提升技术水平，不断创新服务模式，为客户提供可靠、准确的服务支持
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